技術文章首頁 > 技術文章 > 全部文章
FISCHER膜厚儀用實力體現(xiàn)出價值
點擊次數(shù)：2142 更新時間：2018-11-26 打印本頁面 返回
FISCHER膜厚儀用實力體現(xiàn)出價值
FISCHER膜厚儀用來測量材料及物體厚度的儀表，在工業(yè)生產(chǎn)中常用來連續(xù)或抽樣測量產(chǎn)品的厚度（如鋼板、鋼帶、薄膜、紙張、金屬箔片等材料）。這類儀表中有利用α射線、β射線、γ射線穿透特性的放射性厚度計；有利用超聲波頻率變化的超聲波厚度計；有利用渦流原理的電渦流厚度計；還有利用機械接觸式測量原理的測厚儀等。
FISCHER膜厚儀采用電磁感應法測量涂層的厚度，位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。FISCHER膜厚儀利用這一原理可以地測量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度，測試方法主要有：磁性測厚法，放射測厚法，電解測厚法，渦流測厚法，超聲波測厚法。
FISCHER膜厚儀測量注意事項：
⒈在進行測試的時恒要注意標準片集體的金屬磁性和表面粗糙度應當與試件相似。
⒉測量時側(cè)頭與試樣表面保持垂直。
⒊測量時要注意基體金屬的臨界厚度，如果大于這個厚度測量就不受基體金屬厚度的影響。
⒋測量時要注意試件的曲率對測量的影響。因此在彎曲的試件表面上測量時不可靠的。
⒌測量前要注意周圍其他的電器設備會不會產(chǎn)生磁場，如果會將會干擾磁性測厚法。
⒍測量時要注意不要在內(nèi)轉(zhuǎn)角處和靠近試件邊緣處測量，因為一般的FISCHER膜厚儀試件表面形狀的忽然變化很敏感。
⒎在測量時要保持壓力的恒定，否則會影響測量的讀數(shù)。
⒏在進行測試時要注意FISCHER膜厚儀測頭和被測試件的要直接接觸，因此FISCHER膜厚儀在進行對側(cè)頭清除附著物質(zhì)。
在各個領域的廣泛應用，根據(jù)優(yōu)化產(chǎn)品性能和提高安全防護等級的需求，應用新一代的高壓電源和X光管，提高產(chǎn)品的可靠性；利用新X光管的大功率提高儀器的測試效率。FISCHER膜厚儀結構緊湊，堅固耐用，用于質(zhì)量控制的可靠的臺式射線熒光分析設備，提供簡單，快速，無損的鍍層厚度測量和材料分析。
