X-Ray菲希爾X熒光射線測厚儀多鍍層可測量的詳細資料：

X-Ray菲希爾X熒光射線測厚儀多鍍層可測量

X-Ray菲希爾X熒光射線測厚儀多鍍層可測量

 德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀的測量空間寬大，可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅動可調節的Z軸允許放置Z高可達140mm高度的樣品。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。

 德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀
產品描述：
在設計上，FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應。區別在于使用的探測器類型不同。在德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器，從而有了遠好于XDLM使用的比例計數器的能量分辨率。因而，這臺儀器適合于一般材料分析，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。
X射線源是一個能產生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而，由于相對較小的探測器有效接收面積（相比較比例計數器探測器來說），信號強度低，故XDAL有限適用于極微小結構和測量點的測量。和XDLM類似，準直器和基本濾片是可自動切換，以便為不同測量程式創造激勵條件。
德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀的測量空間寬大，可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅動可調節的Z軸允許放置高可達140mm高度的樣品。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。
測量系統配有快速可編程的XY平臺，因而可以方便地按照預定程序掃描檢查樣品表面。此外，在如引線框架等樣品上進行多點測量，或是在多個不同樣品上進行批量測量，都可以通過快速編程自動化地完成。
由于XY平臺在艙門打開時，能自動彈出到加載樣品位置，故而樣品放置定位變得十分簡便。激光點標示處就是樣品的測量位置。
產品特征：
帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。高工作條件： 50 kV, 50W
X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅PIN二極管
準直器：4個，可自動切換，從直徑? 0.1mm 到 ? 0.6 mm
基本濾片：3個，可自動切換
測量距離可在0—80mm范圍內調節
可編程XY平臺
視頻攝像頭可用來實時查看測量位置，十字線上有經過校準的刻度標尺，而測量點實際大小也在圖像中顯示。
設計獲得許可，防護全面，符合德國X射線條例第4章第3節
典型應用領域：
鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來料檢驗，生產監控。
研發項目
電子行業
接插件和觸點
黃金、珠寶及手表行業
測量印刷線路板上僅數個納米的Au和Pd
鍍層
痕量分析
根據高可靠性要求測量鉛Pb含量
分析硬質鍍層材料
應用實例：
德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量。在這一應用中，首先要準確測量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業中高可靠性的要求，為避免裂紋的出現，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面，對于日常使用的電子產品，根據RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量多不能超過1000ppm。盡管XDAL測量Pb含量的測量下限取決于SnPb鍍層的厚度，但是通常情況下XDAL的測量下限足夠低，可以很輕易達到以上的測量需求。