EPK測厚儀MIKROTEST F6的詳細資料：

MIKROTEST F6

 測量使用要求

1、在平面上測量
測量面方位對于測量沒有影響，注意技術數據表中所列的zui 小測量范圍和基體的厚度。

2、在曲面上測量 測量圓柱或圓形邊緣時，可以利用儀器測嘴上的 V 型口。測量凹面時與測量平面相同，但要注意zui小曲率的 限制。

3、在粗糙表面測量
在粗糙表面測量時，讀數將增大（特別是在顆粒尖上）。 在特別粗糙（如峰值超過50um 的鋼基體上，并且涂層厚度超過 100um 時，實際讀數高于涂層真實厚度達20％之多。在這種情況 下應至少測量6 次以上，得出平均值。

4、檢查度
測厚儀裝有磁鋼，在正常使用時是不會發生變化的。通常只 需偶爾或在懷疑讀數的正確性時去測量厚度標準，進行調整。

技術參數

MIKROTEST覆層測厚儀刻度表盤

從上表可選出 適用型號的MIKROTEST覆層測厚儀解決您所遇到的問題。MIKROTEST覆層測厚儀易于操作，測量時只需向前旋動指輪到標尺端部，將測頭定在測量區上，松開自鎖機構，開始自動測量。MIKROTEST鎖定后，就能直接在標尺上顯示出涂層厚度的正確值，單位μm或mm。按說明書規定操作，MIKROTEST覆層測厚儀 可不間斷地使用很多年，為您進行質量控制。