PhaScope PMP10測厚儀非接觸式測量的詳細資料：

PhaScope PMP10測厚儀非接觸式測量

渦流相位法原理：
勵磁電流產生高頻磁場，該磁場在材料（鍍層或基材）中感生渦流。
應用鍍層材料和底層材料中渦流的形態不同進行鍍層厚度測量。
利用對材料電導率的函數關系，可以測量導電性。
勵磁電流與測量信號之間的相位改變量 φ 轉變成鍍層厚度值，或各自的電導率值。
在由探頭決定的一定范圍內，讀數與探頭和鍍層表面的距離無關－非接觸測量

使用針對特定測量任務進行了優化的探針，PHASCOPE®PMP10特別適用于以下幾種：

1. 測量鋼上鎳的鍍層厚度
2. 測量鋼上的鋅或銅 - 盡管表面粗糙，表面幾何復雜
3. 測量有色金屬上有色金屬的厚度，給出足夠的導電性差異，例如 黃銅或青銅上的銅
4. 測量絕緣基板上有色金屬的厚度，如電路板上的銅層。

探頭選擇

特點：

• 手持式儀器，根據相位敏感電渦流法快速、準確地測量鍍層厚度，符合 DIN EN ISO 21968 標準
• 可測量印刷電路板上的銅厚度（頻率為60 kHz 或 240 kHz 的探頭 ESD20Cu）
• 可測量印刷電路板中孔銅厚度（探頭 ESL080）
• 可測量鐵、非鐵金屬或非導電部件上金屬涂層的厚度
• 提供的電腦軟件FISCHER DataCenter®具有以下功能：傳輸和保存測量值，全面的統計和圖形化評估，簡便生成并打印個人檢測報告

典型應用領域：

• 測量鋼鐵上的鋅、銅或鋁鍍層（適合粗糙表面的探頭ESD20Zn）
• 鋼制小部件上的鋅鍍層（用于較小測量面積的探頭 ESD2.4）
• 鋼鐵上的電鍍鎳層（探頭ESD20Ni，頻率 60 KHz 或 240 kHz)
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