Surtronic DUO分體式粗糙度測量儀的詳細(xì)資料：

Surtronic DUO分體式粗糙度測量儀

 Surtronic DUO粗糙度儀是英國泰勒公司新型粗糙度儀，SURTRONIC DUO新型粗糙度儀可測Ra，Rz兩種參數(shù)。DUO具有紅外接口可在距離被測物1米處進(jìn)行測量。

表面粗糙度基礎(chǔ)：

每個(gè)組件表面都會有一些紋理形狀因結(jié)構(gòu)和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個(gè)主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過程或預(yù)測組件在使用過程中的行為，有必要使用表面紋理參數(shù)對表面特征進(jìn)行量化。
表面紋理參數(shù)可分為三個(gè)基本類型:
振幅參數(shù)-測量表面偏差的垂直特征
間距參數(shù)-測量表面偏差的水平特征
混合參數(shù)-間距參數(shù)和振幅參數(shù)的組合
樣本長度-輪廓會劃分為樣本長度|，它的長度足以容納進(jìn)行可靠的統(tǒng)計(jì)所需的數(shù)據(jù)量。對于粗糙度和波紋度分析，樣本長度等于選擇的截止長度。
截止長度(Lc) -截止長度是使用電子或數(shù)學(xué)方法移除或減少不必要的數(shù)據(jù)以查看重點(diǎn)區(qū)域的波長的濾波器。樣本長度也稱為截止長度。
測定長度-用于評估要測定輪廓的X軸方向的長度。測定長度可能包含-一個(gè)或多個(gè)樣本長度。對于原始輪廓，測定長度等于樣本長度。
標(biāo)準(zhǔn)一適用時(shí)，泰勒●霍普森設(shè)備會遵從ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的程序。

測量原理：

通過采用耐磨的金剛石測針部件，以及精密的機(jī)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置，確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測針劃過波峰和波谷時(shí)，高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動(dòng)，然后將機(jī)械移動(dòng)轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器，然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時(shí)計(jì)算表面粗糙度參數(shù)。