FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀的詳細資料：

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀

FISCHERSCOPE® X-RAY XDL材料分析測厚儀

    FISCHERSCOPE® X-RAY XDL和XDLM系列與XUL和XULM系列密切相關：兩者都使用相同的接收器，準直器和濾片組合。配備了標準X射線管和固定準直器的XDL儀器非常適合大工件的測量。
兩種型號的儀器都配備了比例接收器探測器。即使對于很小的測量點，由于接收器的接收面積很大，仍然可以獲得足夠高的計數率，確保良好的重復精度。
    XDLM型號的X射線源采用微聚焦管，可以測量細小的部件，對低輻射組分有較好的激勵作用。此外，XDLM配備了可自動切換的準直器和多種濾片可以靈活地為不同的測量應用創造激勵條件。
    比較XUL和XULM儀器而言，XDL和XDLM系列儀器測量測量方向從上到下。它們被設計為用戶友好的臺式機，使用模塊化結構，也就是說它們可以配備簡單支板，各種XY工作臺和Z軸以適應不同的需求。
    配備了可編程XY工作臺的版本的XDL系列儀器可用于自動化系列測試。它可以很方便地掃描表面，這樣就可以檢查其均勻性。為了簡單快速定位樣品，當測量門開啟時，XY工作臺自動移動到加載位置，同時激光點指示測量點位置。對于大而平整的樣品，例如線路板，殼體在側面有開口（C形槽）。由于測量室空間很大，樣品放置方便，儀器不僅可以測量平面平整的物體，也可以測量形狀復雜的大樣品（樣品高度可達140 mm）。Z軸可電動調整的儀器，測量距離還可以在0 – 80 mm的范圍內自由選擇，這樣就可以測量腔體內部或表面不平整的物體（DCM方法）。

典型應用領域

大批量電鍍件測量

防腐和裝飾性鍍層，如鎳或銅上鍍鉻

電鍍行業槽液分析

線路板行業如薄金，鉑和鎳鍍層的策略

測量接插件和觸點的鍍層

電子和半導體行業的功能性鍍層測量

黃金，珠寶和手表行業